Equipment Portfolio

Mit unserem Equipment Portfolio können Sie wissenschaftliche und experimentelle Infrastruktur der Fakultät nach verschiedenen Kriterien durchsuchen. Die Geräte stehen selbstverständlich nicht nur Fakultätsangehörigen zur Verfügung, sondern können auch von WissenschafterInnen außerhalb der Fakultät und Universität im Rahmen von Forschungskooperationen genutzt werden. Bei jedem Gerät gibt es direkte AnsprechpartnerInnen, die Sie bezüglich Messungen beraten können.

Innerhalb der Fakultät werden einheitlich nur reine Verbrauchskosten und anteilig die regelmäßigen Wartungskosten verrechnet. Außerhalb der Fakultät werden zusätzlich anteilig die üblicherweise anfallenden Reparaturkosten verrechnet. Außerhalb der Universität erfolgt die Abrechnung der anteiligen Gesamtkosten inklusive Abschreibung.

Bitte wenden Sie sich an die Kontaktperson für weitere Informationen und die Gerätenutzung. Für allgemeine Fragen zur gesamten Infrastruktur der Fakultät steht Ihnen als Ansprechpartner der Vizedekan für Infrastruktur zur Verfügung.

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3D-Digital microscope

KEYENCE 3D Digital VHX-600 microscopew ith 54 million pixels, transmitted light setup, capturing moving and stationary images, 20-1000x magnification,...

Microscopy

Cathode Luminescence Microscope

Lumic HC5-LM Cathode Luminescence Microscope

Microscopy

Epifluorescence Microscope

Nikon epifluorescence research microscope with Super High pressure Mercury Lamp HB-10101 AF and Power Supply PSM-4H

Microscopy

Epifluorescence Microscope

Nikon Epifluoreszent Stereomicroscope with Jenaoptic ProgRes XTcore5 digital camera and software equipment, SMZ 1500

Microscopy

Imager microscope

Zeiss A1 Imager microscope with a J&M microspectrometer (190 – 980 nm)

Microscopy

Microscope

LEICA 1 DM 2700 P, Polarisation light microscope with digital camera

Microscopy

Microscope

LEICA 2 DM 4500 P LED, Polarisation petrographic microscope with digital camera and 100 oil immersion

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Photomacroscope

Leica photomacroscope with Leica MC 170 HD digital camera and software equipment, for vertical and horizontal use, Z16 APO

Microscopy

Scanning Electron Microscope (SEM) Inspect S-50

Fei Inspect S. Equipped with secondary electron detectors for operation at high and low vacuums, back scattered electron and cathodoluminescence...

Microscopy

Scanning Electron Microscope (SEM) Jeol 6400

Jeol high-vacuum scanning electron microscope with LINK Oxford energy-dispersive X-ray spectroscopy

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