Scanning Electron Microscope (SEM) Inspect S-50

Fei Inspect S. Equipped with secondary electron detectors for operation at high and low vacuums, back scattered electron and cathodoluminescence detectors and EDAX unit

Contact: Univ.-Prof. Dr. Jürgen Kriwet (juergen.kriwet@univie.ac.at)

located: Department of Palaeontology (IfP)

Category: Microscopy

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