SIMS analysis of chemically abraded zircons: improvements, complications, and questions
- Autor(en)
- C.W.Jr. Magee, C. Koymans, K. Waltenberg, Lutz Nasdala, R. Dubosq, B. Gault, N.J. Evans, S. Bodorkos, Y. Amelin, S.L. Kamo, T. Ireland
- Organisation(en)
- Institut für Mineralogie und Kristallographie
- Publikationsdatum
- 2024
- Peer-reviewed
- Ja
- ÖFOS 2012
- 105116 Mineralogie, 105113 Kristallographie, 104026 Spektroskopie
- Link zum Portal
- https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/6b2a6900-e226-4906-bb7c-37309eb37e61